Комплексные решения для измерения параметров устройств на пластине

Производство изделий микроэлектроники требует больших финансовых вложений при сравнительно долгом сроке выхода на серийный продукт. Именно поэтому одной из главных задач для предприятий является увеличение рентабельности производства за счет оптимизации технологических процессов, сокращения времени разработки и увеличения процента выхода годных изделий. Одним из инструментов для решения этой задачи является внедрение входного, выходного и промежуточного контроля на всех этапах производства. Реализация такого подхода позволяет выявить негодные изделия на ранних стадиях производственного цикла и исключить дальнейшие операции с ними, определить причину появления брака, а также ускорить процесс разработки за счет создания масштабируемых моделей для использования их в САПР.



Предлагаемые решения оптимальным образом решат вашу текущую измерительную задачу и смогут без дополнительных логистических затрат обеспечить решение большинства задач на перспективу. Это возможно за счет модульной архитектуры, позволяющей дооснащать системы на месте эксплуатации. Вам останется только определить номенклатуру тестируемых изделий, необходимую степень автоматизации и перечень измеряемых параметров, чтобы собрать программно-аппаратный комплекс из готовых блоков.